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    原位加熱/電學樣品桿

    【產品概述】PicoFemto系列透射電鏡原位加熱/電學樣品桿,基于MEMS原位芯片技術,通過更換多種類型的加熱芯片或電學芯片,在透射電鏡中實現對樣品加熱或加電的原位功能。

    • 產品型號:Almighty
    • 更新時間:2023-08-09
    • 訪  問  量:2182
    • 廠商性質:生產廠家

    產品詳情

        PicoFemto系列透射電子顯微鏡原位加熱/電學樣品桿是在標準外形的透射電鏡樣品桿內安裝MEMS工藝制成的加熱芯片和電學測量芯片。加熱芯片可對樣品進行可控溫度的加熱,電學測量芯片可對樣品進行電性質測量。并可在進行加熱和電學測量的同時,動態、高分辨地對樣品的晶體結構、化學組分、元素價態進行綜合表征,大大地擴展了透射電子顯微鏡的功能與應用領域。

        技術指標

    電學測量 加熱控溫
    1.包含一個電流電壓測試單元; 1.溫度范圍:室溫至1200℃;
    2.電壓輸出:Max ±200V, Min ±5 uV; 2.加熱功率:Max 30W;
    3.電流測量:Max ±1.5 A, Min ±100fA; 3.控溫穩定性:優于±0.1℃;
    4.恒壓或恒流模式 4.PID/Pulse/Manual三種控溫方式;
    5.軟件控制,數據自動保存。 5.軟件控制,數據自動保存。

        產品選型

        原位加熱/電學樣品桿具有單傾、雙傾兩個版本,電極數可選;同時可拓展真空轉移芯片桿、低溫芯片桿,用戶可根據實驗需求自行選擇。

        澤攸科技提供適配Thermofisher/FEI(賽默飛)、JEOL(日本電子)、Hitachi(日立)各型號透射電子顯微鏡及極靴的不同型號芯片式樣品桿,支持定制。

        國內部分用戶

     

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        典型案例

        1、透射電鏡內的原位加熱實驗;

        2、透射電鏡內的原位加電實驗(可選針對敏感樣品的真空轉移方案);

        3、透射電鏡內的原位熱電耦合實驗;

        4、透射電鏡內的低溫電學實驗;

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